plaats van herkomst
Shanghai, China
Type
Ultraviolet-zichtbare spectrometer
Aangepaste Ondersteuning
Oem, Odm, Obm
Golflengte nauwkeurigheid
± 1,0 nm
Golflengte herhaalbaarheid
0,2nm
Fotometrische nauwkeurigheid
± 0.5% t
Fotometrische herhaalbaarheid
0.2% t
Verdwaald licht
≤ 0.05% t (220nm nai, 340nm nano2)
Stabiliteit
0,001a/h @ 500nm
Fotometrische modus
T, a, c, e
Golflengte instelling
Automatisch
Fotometrisch weergavebereik
-0.3 ~ 3a