Alle categorieën
Uitgelichte selecties
Trade Assurance
Kopercentrale
Helpcentrum
Download de app
Word een leverancier

EC770 0 ~ 1300um meetbereik Digitale Laagdiktemeter Met FE/NFE Probe Hoge Nauwkeurigheid Verf Dikte Meter tester

Nog geen beoordelingen

Belangrijkste kenmerken

Andere specificaties

plaats van herkomst
Anhui, China

garantie
1 jaar

Aangepaste Ondersteuning
Oem

naam van het merk
VETUS

modelnummer
EC770

Meetprincipe
Magnetische inductie (F-sonde) en wervelstroom (N-sonde)

Meetbereik
0 tot 1300um (0 tot 51.2mil)

Voeding:
1.5V AAA batterij * 2 (Niet Inbegrepen)

Minimum meten grootte
Diameter 6mm(236mil)

Kalibratie:
Een tot vier punt kalibratie, nul kalibratie

Bediening Temp
0 ° C-

Size
110x53x24mm

Verpakking en levering

Verpakkingsdetails
Standard packing

Verkoopeenheden:
Enkel product

Afmetingen enkel pakket:
20X10X5 cm

Brutogewicht:
2.000 kg

Doorlooptijd

Hoeveelheid (sets)1 - 3 > 3
Geschatte tijd (in dagen)5Overeen te komen
Twijfelt u nog? Ontvang eerst voorbeelden! Voorbeeld bestellen

Voorbeelden

Maximum order quantity: 1 set
Prijs van voorbeeld:
US$ 85,00/set

Maatwerk

Aangepast logo
Min. Bestelling: 100
Aangepaste verpakking
Min. Bestelling: 100
Afbeeldingen bewerken
Min. Bestelling: 100

Productbeschrijvingen van de leverancier

1 - 2 sets
US$ 85,00
3 - 4 sets
US$ 82,00
>= 5 sets
US$ 79,00

Variaties

Totaal aantal opties:

Verzending

Er zijn momenteel geen verzendoplossingen beschikbaar voor de geselecteerde hoeveelheid
Twijfelt u nog? Ontvang eerst voorbeelden! Voorbeeld bestellen

Voorbeelden

Maximum order quantity: 1 set
Prijs van voorbeeld:
US$ 85,00/set

Ledenvoordelen

Snelle restituties voor bestellingen onder de US $ 1.000Claim nu

Aankoopdetails
Bescherming met

Veilige betalingen

Elke betaling die u op Alibaba.com doet, is beveiligd met strikte SSL-codering en PCI DSS-gegevensbeschermingsprotocollen

Restitutiebeleid en Easy Return

Claim een restitutie als uw bestelling niet wordt verzonden, is zoekgeraakt of aankomt met productproblemen, plus retourneer gratis lokaal bij defecten